NEXUSTEST
NEXUSTEST 總部位於新加坡，專注於高速光通訊與半導體測試設備，提供高速通訊測試、位元錯誤率測試（BERT）、網路測試、光通訊量測及高速收發器自動化測試等完整解決方案。產品廣泛應用於高速光模組、矽光子、雷射元件、CPO 與 AI 資料中心，協助客戶完成產品開發、驗證及量產測試。
NEXUSTEST 長期深耕高速光通訊與半導體測試領域，產品廣泛應用於高速光模組、矽光子、雷射元件、Co-Packaged Optics（CPO）及 AI 資料中心等應用，滿足新世代高速傳輸技術對高精度測試的需求。
High Speed Communication Test 產品線涵蓋高速通訊測試、位元錯誤率測試、網路測試、光通訊量測及高速收發器自動化測試等設備，為高速光通訊產品提供完整的開發、驗證及量測解決方案
Sampling Oscilloscope 取樣示波器
NEXUSTEST Sampling Oscilloscope 取樣示波器系列提供高速光訊號量測與眼圖分析能力，支援 NRZ、PAM4 等高速訊號驗證，可完成 Eye Diagram、TDECQ、OMA 等高速光通訊量測，適用於高速光模組、矽光子、高速收發器及 AI 資料中心光互連等測試需求，協助產品完成研發、驗證及量產測試。
Clock Recovery Unit 時脈恢復器
NEXUSTEST Clock Recovery Unit 時脈恢復器系列提供高速時鐘恢復與同步能力，可從 NRZ、PAM4 高速訊號中精準恢復時鐘，搭配取樣示波器完成高速眼圖分析及訊號同步量測，適用於高速光模組、PON、矽光子及高速收發器等產品的研發、驗證與量產測試。
Burst Mode Bit Error Ratio Tester突發模式位元錯誤率測試儀
NEXUSTEST Burst Mode Bit Error Ratio Tester 突發模式位元錯誤率測試儀專為 PON 與 Burst Mode 光通訊測試設計，提供高速 Burst BER 分析、接收靈敏度及同步效能驗證，支援 XGS-PON、25G／50G PON、ONU／OLT 等測試需求，可協助光接取設備完成研發、驗證與量產測試。
Bit Error Ratio Tester 誤碼率分析儀
NEXUSTEST Bit Error Ratio Tester 誤碼率分析儀系列提供高速 BER 量測、實體層分析及一致性驗證能力，支援 NRZ、PAM4 等高速串列訊號測試，可完成 BER、FEC、Jitter 等驗證，適用於高速光模組、PCIe、乙太網路、資料中心互連及高速介面的研發、驗證與自動化測試。
Network Tester 網路測試儀
NEXUSTEST Network Tester 網路測試儀系列提供高速乙太網流量產生、封包分析及 FEC 驗證能力，可完成 Ethernet Traffic、L1 BER、L2 效能及 RFC2544 等測試，相較於傳統 BER 測試更貼近實際網路環境，適用於高速光模組、交換器、NIC 及資料中心網路設備驗證。
Fast Wavelength Meter 快速波長計
NNEXUSTEST Fast Wavelength Meter 快速波長計系列提供高速、高精度波長量測與校準能力，支援 Tunable Laser、高速調變光訊號及內／外部觸發量測，適用於相干光通訊、DWDM、矽光子、雷射元件及高速光模組等產品的研發、驗證與量產測試。
Optical Test Instrument 光學測試儀器
NEXUSTEST Optical Test Instrument 光學測試儀器系列涵蓋光功率計、光開關及光衰減器等核心光學量測設備，提供光功率量測、光路切換及光訊號控制能力，適用於高速光模組、光收發器、矽光子、PON 及 AI 光互連產品的研發、驗證與量產測試，協助建構完整光通訊測試平台。
High Speed Transceiver ATE 高速光模組測試平台
NEXUSTEST High Speed Transceiver ATE 高速光模組測試平台整合 BER 分析、溫控系統及自動化測試軟體，提供高速光模組一站式測試方案，支援 100G 至 800G 光模組驗證、多通道平行測試及高低溫循環測試，可有效提升測試效率，加速產品研發、驗證與量產導入。
