1.6Tbps乙太網流量測試模組-Z1608 Edun

1.6Tbps乙太網流量測試模組-Z1608 Edun
支援 112G 與 224G SerDes 的 Terabit Ethernet 測試平台
隨著人工智慧、雲端運算與超大規模資料中心的崛起,全球正加速邁入 Terabit 乙太網時代。 Teledyne LeCroy Xena 乙太網測試平台專為半導體、網路設備製造商與資料中心開發者打造,提供從 Layer 1 訊號完整性到 Layer 2 流量生成與分析的全方位測試解決方案。 支援 224 Gbps 高速電氣通道與進階 FEC、PCS 診斷,協助客戶驗證 1.6T 與 800G 級產品效能。透過高效的硬體架構與直覺化軟體介面,Xena 可模擬真實網路負載、進行壓力測試與自動化驗證,加速產品研發與部署。
領先的規格與高彈性化設計
Z1608 Edun 是全球少數可同時測試 112G 與 224G PAM4 SerDes 的乙太網路流量產生器。採用高速 OSFP-1600 介面,相容光纖電纜與主動/被動銅纜,提供卓越的媒體靈活性。 此外,Z1608 Edun 採用 1U 輕量化機箱設計,是市場上體積最精簡的 112G/224G 測試儀,低噪音且適合桌面使用。多台機箱串接後即可構建多埠測試系統,透過 XM3 與 XOA 平台統一管理,以實作最佳時序同步與 PPM 控制。
全面的測試功能與優勢
- 支援高效能 100 GE、200 GE、400 GE、800 GE 乃至 1.6 TE 業界速率階段。
- 完備 Layer 1 與 Layer 2 檢測能力,包括 PCS / PMA 層測試、PRBS 圖形產生、lane skew 校正、延遲與抖動統計。
- 內建 Signal Integrity View (SIV) 功能,訊號品質視覺化,並協助優化 BER 與訊號完整性。
- 專屬 XIO 介面可全面控制安裝於機箱內的 OSFP 模組管理介面,包括 I²C、模組選擇、低功耗模式、功率與溫度量測,無須額外模組介面板。
- 適用於晶片驗證、交換器/NIC 測試、傳輸線纜/光模組開發、資料中心網路升級與互通性驗證。
應用場景
- 高速 SerDes 晶片研發:驗證 FEC、通道對齊與 Signal Integrity。
- 主動/被動電纜與光模組驗證:自動化通道均衡與 BER 優化。
- 資料中心與網通設備測試:涵蓋大規模多埠傳輸、延遲/抖動量測,例如:晶片、乙太網路交換器、路由器、NIC、收發器和纜線等等。
Terabit 乙太網路的四種測試場景
1.晶片測試(Silicon Chip Testing)
Terabit 乙太網路的新一代半導體測試始於 Layer 1,通過基本啟動後進行訊號完整性驗證。透過 PRBS 測試可評估整體 BER 表現,而針對 FEC、PCS 通道對齊等子模組,則可藉由插入特定錯誤(如 FEC 符號錯誤)驗證系統反應,確保晶片於高速通訊環境下穩定運作。
2.收發器與主動式電纜測試 (Transceiver & Active Cable Testing)
Terabit 收發器與主動式電纜需進行高精度均衡調校,以確保長距離傳輸下的訊號品質。Teledyne LeCroy 提供自動化均衡器測試流程,透過 XOA 與 CMIS 介面快速完成調校,大幅減少人工測試時間。Z1608 Edun 流量產生器可同時進行均衡調整與 BER分析,確保裝置在不同速率下皆能維持最佳效能。
3.網路設備測試 (Network Equipment Testing)
交換機與 NIC 的 Layer 1-3 驗證對 1.6Tbps 設備開發至關重要。Z1600 Edun 可在不建大型測試網路的前提下模擬線速流量與壓力環境,用於功能、效能及多廠商互通性測試。常見「蛇形測試 (Snake Test)」可同時驗證多埠效能,協助設備商加速產品認證。
4.數據中心測試 (Data Center Testing)
隨著數據中心升級至 1.6Tbps,以維持高容量與低延遲,部署前的完整測試成為關鍵。Teledyne LeCroy 的流量產生與分析平台,能從 Layer 1 訊號完整性到 Layer 3 協定驗證,協助營運商確認互通性、標準相容性及整體效能,確保網路在上線前達到最佳狀態。





